| 项目名称 | 膜厚仪 | 项目编号 | XJD************* |
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| 公告开始日期 | ****-**-** **:**:** | 公告截止日期 | ****-**-** **:**:** |
| 采购单位 | 西安交通大学 | 付款方式 | ***%电汇，见开箱记录后电汇支付**%货款，剩余货款验收合格后电汇支付。 |
| 签约时间要求 | 发布竞价结果后*天内签订合同 | 到货时间要求 | 合同签订后**天内送达 |
| 预算总价 | ***** | 币种 | 美元 |
| 收货地址 | 陕西省咸阳市秦都区**** | ||
| 供应商资质要求 | 无 | ||
| 采购商品 | 采购数量 | 计量单位 | 附件 |
|---|---|---|---|
| 膜厚仪 | *.** | 套 | 无 |
| 品牌 | filmetrics |
|---|---|
| 型号 | F** |
| 预算单价 | ***** |
| 规格参数 | *.测量薄膜厚度范围：**nm-**um （SiO* on Si）*.测量n和k值最小厚度要求：***nm*.波长范围：***-***nm*.光纤通光波长范围：***-****nm*.准确度：*.*%或*nm*.精度：*.**nm*.稳定性：*.**nm*.光斑大小：根据物镜倍数，**um-***um*.光源及寿命：钨卤灯 ****h**.厚度标准片：配置氧化硅厚度标准片**.*具备autocal光谱自动校正功能**.*离线分析软件：可授权离线分析软件模拟实际测量，不需要连接主机**.厚度拟合算法：至少拥有Exact，Robust和FFT三种厚度拟合算法**.材料库：拥有不小于***种不同材料的数据库，可自由导入新材料文件**.原始信号：可实时显示光强原始信息，用于信号聚焦**.反射率模拟：可进行不同镀膜材料的建模，模拟镀膜膜系的反射率曲线**.电脑抛档：可以实现测量文件抛档，与自命名 **.配置光学平台 **.配置显示器**.文件导出格式：CSV,fibhi,mls |
| 售后服务 | 按行业标准提供服务，质保期**个月。 |
