3D超景深数码显微镜（XF-WSBX-2400403）采购公告
| 项目名称 |
*D超景深数码显微镜 |
项目编号 |
XF-WSBX-******* |
| 公告开始日期 |
****-**-** **:**:** |
公告截止日期 |
****-**-** **:**:** |
| 采购单位 |
浙江大学 |
付款方式 |
货到付款，甲方在到货验收后**日内向乙方一次性支付本项目的总额 |
| 签约时间要求 |
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到货时间要求 |
成交后**个工作日内 |
| 预算总价 |
￥ ******.* + NaN + NaN |
| 发票要求 |
增值税普通发票增值税专用发票
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| 含税要求 |
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| 送货要求 |
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| 安装要求 |
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| 收货地址 |
浙江大学紫金港校区西四教学楼A*** |
采购清单*
| 采购商品 |
采购数量 |
计量单位 |
所属分类 |
| *D超景深数码显微镜 |
* |
台 |
显微镜 |
| 品牌 |
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| 型号 |
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| 预算单价 |
￥ ******.*
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| 技术参数及配置要求 |
*.放大倍数范围：***-****X需一个镜头可连续变倍率依次有：X***、X***、X***、X**** X****，无需外置光源*.相机帧率：≥**帧/秒。*.图像传感器实效像素：≥***万(景深合成时也可以达到***万)*.最高拍摄像素：≥****万*.XY载物台内置旋转装置，可在不触碰样品情况下旋转样品方向，θ 旋转角：±**度*.支架带动镜头倾斜观察角度：≥**°*.Z轴移动分辨率≥*.*um*.*D测量：有丰富的*D测量工具，带有自动抓取边缘、多于*点连续多点取圆。*.*D测量：支持*D轮廓测量 **.电脑要求：Intel处理器，*T硬盘，**G内存，Windows**系统，**寸以上*K分辨率显示屏**.配中文控制器、全中文软件测试界面。**.带原厂面积测量功能**.手持观察：增加镜头后可进行原厂镜头最大***倍以上手持观察。 **.最大样品高度：≥***mm **.设备XY载物平台内置可调底光。**.分屏拍摄+分屏测量：分屏显示（左右、上下、*分屏、*分屏、连动显示）屏幕可进行*个显示界面，每个界面可单独进行景深合成、二维测量、消除反光等拍摄、测量功能。**.*D显示：支持两个*D图像联动显示比对，可同时转动*个*D图像，也单独转动其中一个，进行对比分析，差分色彩显示差异化部分。**.添加*D测量软件可支持测量Ra、Rz、Sa、Sz等线粗糙度和表面粗糙度。**.添加*D测量软件可支持点高度测量：点高度测量可自动获取这个画面的最高点和最低点，进行极值测量，可获取面型极值。**.添加*D测量软件可快速测量平均高度差：可指定基准零面，通过连续单次点击平面画面快速测量目标物的平均高度差。**.*D报告编辑：*D显示图像可以有*个独立画面，进行独立的*D旋转和二维、三维的切换，便于*D图片不同角度同时成像报告输入。 **.丰富的图像优化功能 （凹凸强调功能；消除光晕；自动对焦功能）**.测量结果可一键CSV格式输出**.可添加批注**.可支持搭载元素判定模块进行元素判别（单点，多点，多层元素判定）**.具备聚焦跟随功能，在移动的过程中实时对焦**.具备快速重播功能，可一键自动播放所有*D测量步骤**.操作页面简单容易上手**.需有抖动修正功能**.产品具有至少*年的客户良好市场反馈，提供在杭州地区半导体客户交易记录至少*家 |
| 参考链接 |
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| 售后服务 |
服务网点:当地;电话支持:*x**小时;服务时限:报修后*小时;销售资质:协议供货商;商品承诺:原厂全新未拆封正品; |
