品目*：二维X射线小角/广角散射线站 *台 进口
一、项目需求：
全自动二维X射线小角/广角散射线站可实现表征包括研究各向异性纳米级结构和取向、快速表征材料晶体结构，例如层状堆垛、粒子取向、结晶度、物相变化等。设备同时可与原位样品台等样品处理装置联用，能对外场环境作用下材料组装基元排列（有序性）结构确演变过程现实原位表征。设备可对多种类型材料，如溶液、聚合物、生物大分子、胶体、液晶、粉末、薄膜、纤维和纳米复合材料等，表征从近原子级到近数百纳米范围亚微观结构和形态特征，获取材料体相中统计意义结构信息。
二、技术参数
*.工作条件
*.*电源电压AC***V，**Hz（单相） 或AC***V，**Hz（三相）；
*.* 工作温度 **-** ℃；
*.* 相对湿度 ≤ **％；
*.* 仪器运行的持久性：可长时间连续工作。
*.X射线源
*.*高亮度微焦斑固定靶点光源，靶材必须为Cu；
△*.*为了获得高功率密度，铜靶的靶上焦斑（直径）≤ ** 微米（标准：DIN EN *****-*），提供整机制造商官方网站截图及链接（进口设备需提供原厂英文网页）验证该焦斑尺寸大小；焦斑每减小*.*微米，加*.*分，最高加*分。
▲*.*配备高效多层膜X射线反射聚焦镜，考虑光束长期的稳定性，优先采用无需调节镜面的聚焦镜，提供制造商的官方具体方案，包括设备结构图和技术说明；
▲*.* 光源采用全自动内循环水冷散热，控温精度≤ *.* ℃；
*.* 具备X射线安全防护装置和安全联锁，防止意外辐射的泄露；
▲*.* 光管靶材无需维护，阴极灯丝寿命至少三年（或*.*万小时）；
*.准直系统
▲*.* 采用无散射准直，且无散射准直的组数≤ * 组；
▲*.* 如采用狭缝准直，狭缝开口在*.**~*.* mm范围内实时、连续、自动改变，精度≤ *.*** mm；
△*.* 样品处最大X射线的通量 ≥ *.*×**^* phs/s；该指标安装后必须现场测试后方可验收；
▲*.* 系统动态量程（最高强度/背景强度）≥ **^**；该指标安装后必须现场测试后方可验收；
▲*.* 光路的真空度≤ *.* mbar；
△*.*整机的光路以高品质光学平台构建，提供整机的实物图片和光学平台的品牌进行验证；
*.样品腔及样品台
△*.* 超大金属样品腔，内部空间允许至少**升，在垂直于光路方向可兼容尺寸不小于**cm***cm尺寸的原位样品台，对于所有的常规及原位样品台，此样品腔可直接进行真空、空气/气氛环境正常测试，无需内置第二个样品腔；提供制造商的官方具体方案，包括设备结构图和技术说明；
△*.* 样品腔可以在非真空条件下对液体、固体和粉末样品进行测试。切换样品台时无需抽放真空，可快速切换，提供制造商的官方具体方案，包括设备结构图和技术说明；需要提供国内的已有用户证明；
▲*.* 样品腔具有与X射线光路同轴的相机，可实时观察样品且不存在视差；提供实物图片资料和技术原理说明；
▲*.* 样品自动对中：样品台在垂直于入射光路的X/Z（水平/竖直）方向自动移动的行程≥ +/- **mm（*~*** mm），精度不低于**微米，样品可精确对中；
▲*.* 常规样品台，包含：
a) 固体、粉末、溶液样品台，各*套；提供批量测试方案和程序；且分别提供不少于**位的批量测试方案和程序；
b) 上述样品台兼容真空和气氛环境测试，具备磁性底座，方便快速更换；
c) 软件系统可自动识别不同样品架，自动调整位置；
*.小角/广角二维探测器及数据采集系统
▲*.* 二维硅阵列单光子计数探测器：散射信号探测器利用固体硅传感材料直接转换X射线为电子信号，并采用单光子计数模式；而非通过气体或者两步转换的探测器类型；
▲*.* 读出时间：连续读出，无死时间；
▲*.* 无读数噪音或暗电流；
▲*.* 最大计数率：≥ *×**^* phs/s/mm*；
▲*.* 像素大小 ≤ **×** 微米；
▲*.* 点扩散函数PSF（FWHM）：不大于*个像素；
▲*.* 单个像素的动态范围 ≥ ** Bits；
▲*.* 量子效率：≥ ** %（Cu_Ka）；
▲*.* 上述单个探测器的工作面积 ≥ **×** mm*；
▲*.**上述探测器可在真空管路中正常运行，探测器无需外接干燥性保护气；
△*.** 探测器具备保护窗，可进行无窗探测，且在测试时可自动升降，提供样品实际测试过程的实物视频证明（视频存放在电子版u盘中单独密封）；
▲*.**上述探测器到样品的最大距离≥**** mm，可延伸至≥**** mm；提供整机制造商官方网站截图及链接（进口设备需提供原厂英文网页）验证上述的整机长度；
▲*.** 上述探测器到样品的最小距离≤ ** mm；
△*.**上述小角探测器在真空管路内沿入射光路方向可全程自动移动；
▲*.**上述探测器在光路中可自动采集≥ *** cm^*的超大面积二维图谱，且样品固定不动（无需移动或旋转样品）；
*.二维小角/广角（*D SAXS/WAXS）数据采集功能
▲*.* 二维小角最小可测散射矢量q_min≤*.*** nm-*；
▲*.* 样品固定不动，利用单个二维探测器可采集的q_max ≥ ** nm-*；
△*.* 样品固定不动，利用单个二维探测器可全程连续、自动采集*.***～** nm-*的q范围的二维图谱；且可自动设置不同光斑的分辨率批量采集，全程无需人为干预；该指标安装后必须现场测试后方可验收；
*.仪器控制及数据采集、处理软件
*.*提供全套数据采集所需计算机服务器等硬件及软件系统，软件可进行设备自动化控制，自动数据采集，支持批量测试及数据批处理；
▲*.*采用全流程无beamstop测试方案，探测器前方无需任何光束阻挡器或衰减片、麦拉膜等任何物质；
△*.*系统数据采集软件可实时显示当前正在采集过程中的直通光及二维小角图谱，且可实时、自动的转换为一维曲线；提供软件视频证明二维图实时自动转一维曲线的功能；
△*.* 采集软件具备实时自动去除宇宙背景射线噪音的功能；
▲*.* 软件直接计算绝对散射强度，无需用标样标定光强；
△*.* 仪器配套专业数据拟合软件，涵盖常见的各种数据分析拟合功能；
*.* 仪器控制及数据采集软件需在Linux操作系统下运行，支持用户自开发；
*.主机包含：数据处理系统*套，实验耗材包（毛细管和Kapton胶带，安装调试工具）*套
